案例：集成模块传感器一托九工位双扣探针测试夹具test socket

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案例：集成模块传感器一托九工位双扣探针测试夹具test socket
一、被测器件
1：被测传感器模块规格
集成模块传感器，60pin，引脚中心间距1.27，外形尺寸19*22mm，高度5.05mm。
2：测试座电气链接性能要求
上电测试传感器功能是否正常，频率100Mhz，单PIN最大电流20mA，温度常温。
3：测试座结构要求
①传感器为集成的模块，需要开槽挖孔避开集成模块上面的连接器接口及电子元器件。
②传感器顶部小液晶屏需要开窗透光及观察工作情况。
③需要采取单个测试座多工位设计方式压缩使用空间。






二、我司测试座设计图



三、测试座特点
测试座（夹具）特性
①结构：顶窗揭盖双扣式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~175℃≤85%rh；
⑨机械寿命：100000；
测试座（夹具）特点：
①测试座设计成双扣顶窗结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试夹具采用多工位设计方式，大批量测试老化大大压缩占地空间比。
④测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
⑤测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。
四、实物图

紫易

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